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来源:未知 作者:admin 发布时间: 2021-12-30 03:12:00 阅读次数:69

XRF快速检测仪 采用的是一种相对分析技术,这意味着为了获得结果,需要将未知样品中收集的数据与仪器上的标样数据相比较,并将其与已经建立的物理公式相联系。虽然此种技术有较高的接受度,用户也接受过正确使用的培训,但有些情况会影响结果并引起误差。
  哪些原因可能导致XRF快速检测仪的误差
1.样品未聚焦
 
这是XRF快速检测仪测量零件的关键步骤。聚焦使X射线管、零件和探测器间保持固定的距离。X射线强度会随着距离的增加而衰减,因此X射线管和探测器与样品间的距离太远会导致测量结果偏薄。而X射线管和探测器与样品间的距离太近会导致测量结果偏厚。对于多层镀层,此种情况更甚,因为距离数据被在计算中错误使用。
 
2.零件放置方向不正确
 
对于平直零件,旋转角度不是问题,因为XRF信号不受影响。但是对于弯曲零件非常重要的是,将零件的轴与X射线管和探测器的轴向保持一致。
 
这使零件对齐更容易且数据再现性更好,这可以方便X射线束照射在凸形零件顶部或凹形零件底部,而不是侧壁上。与聚焦的情况类似,错位测量也会改变X射线管样品-探测器间的距离。在极端情况下,零件未对齐可能会使所有XRF信号无法到达探测器。
 
3.基材变化
 
基于镀层和基底中的材料,基底中的元素会影响镀层的XRF特性。以上是众所周知的事实,因此,使用与待测量的零件相似的材料以创建校准程序可获得更好效果。如果零件的基底材料与校准标样所使用的基底不同,结果可能会有误差。
 
例如在青铜(CuSn)基底上镀镍(Ni)和金(Au)的零件。青铜基底中的锡(Sn)几乎可以起到辅助X射线源的作用,使镀层产生更多X射线荧光信号。如果使用纯铜(Cu)基底进行校准,则锡(Sn)的二次荧光作用未被正确计入计算模型中,从而导致镍和金的结果不正确。
 
4.测量结果超出校准范围
 
镀层厚度或成分与强度(XRF响应)之间的关系在小范围内是线性关系,但在较大范围内可能是曲线关系。因此,校准曲线被优化,在有限的厚度和成分范围内工作,而不是覆盖整个分析范围。
 
该优化范围由回归设置及创建校准曲线时使用的标样决定。用户可与XRF快速检测仪制造商合作,了解校准曲线范围,如果测量结果超出该范围,则在用户的软件中设置警告。
 

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