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来源:未知 作者:admin 发布时间: 2021-11-06 05:11:37 阅读次数:54

手持式重金属检测仪 是一种相对分析仪器,这意味着为了获得结果,需要将未知样品中收集的数据与仪器上的标样数据相比较,并将其与已经建立的物理公式相联系。虽然此种技术有较高的接受度,很多用户也接受过正确使用的培训,但有些情况会影响结果并引起误差。欧润小编在此为大家总结一下:
  哪些原因可能会引起手持式重金属检测仪误差(上)
一、样品未聚焦
 
这是测量零件的关键步骤。聚焦使X射线管、零件和探测器间保持固定的距离。X射线强度会随着距离的增加而衰减,因此,X射线管和探测器与样品间的距离太远,会导致手持式重金属检测仪的测量结果偏薄。
 
而X射线管和探测器与样品间的距离太近会导致测量结果偏厚。对于多层镀层,此种情况更甚,因为距离数据被在计算中错误使用。
 
二、零件放置方向不正确
 
对于平直零件,旋转角度不是问题,因为XRF信号不受影响。但是,对于弯曲零件,非常重要的是,将零件的轴与X射线管和探测器的轴向保持一致。
 
这使零件对齐更容易且数据再现性更好,这可以方便X射线束照射在凸形零件顶部或凹形零件底部,而不是侧壁上。与前述聚焦的情况类似,错位测量也会改变X射线管样品-探测器间的距离。在极端情况下,零件未对齐可能会使所有XRF信号无法到达探测器。
 
三、基材变化
 
基于镀层和基底中的材料,基底中的元素会影响镀层的XRF特性。以上是众所周知的事实,因此,使用与待测量的零件相似的材料以创建校准程序可获得更好效果。如果零件的基底材料与校准标样所使用的基底不同,手持式重金属检测仪的结果可能会有误差。
 
例如,在青铜(CuSn)基底上镀镍(Ni)和金(Au)的零件。青铜基底中的锡(Sn)几乎可以起到辅助X射线源的作用,使镀层产生更多X射线荧光信号。如果使用纯铜(Cu)基底进行校准,则锡(Sn)的二次荧光作用未被正确计入计算模型中,从而导致欧润手持式重金属检测仪对镍和金的测量结果不正确。
 

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